在国内，有人对文物无损检测的结果持怀疑态度，这些质疑当然有其原因所在。例如，在2005年举行的“第二届中国民间元青花藏品研讨会”上，对一批瓷器分别进行了X射线荧光检测和热释光测年，结果表明，X射线荧光釉面测试对鉴定器物新老的成功率在90%以上；对鉴定瓷器年代的成功率在56%左右；用热释光测年的误差更大，甚至得出相反的结论，或根本测不出来。

　　实际上，任何无损检测的手段都不能包打天下，它只是擅长于某一方面的检测，并且有一定不足或缺陷。首先，X射线荧光光谱仪只是对文物表面元素成分比例进行的一种检测，如果一些仿品的釉面成分达到与真文物成分相符或相似的比例，仅靠成分检测就难以测出真假。其次，X射线荧光光谱仪测试出的数据要与已确定的老瓷器的各种元素的比例数值相对比，如果没有确定的老瓷器的数值作为标准，就难以对比和确定被测瓷器的年代。

　　至于热释光测年造成的误差，则有更多的因素。以元青花梅瓶热释光测年结果为例，同样的产品，有的检测认为是13～14世纪的产物，有的经检测则只有600年的历史。出现如此大的误差的主要原因是，取样的藏品已出土多年，出土前后所处的环境条件不同，比如，被检品曾作过去污药水浸泡、高温蒸煮清洗等处理，或经过修补等，这些情况都会造成热释光测年判断文物的失误。

　　另外，无损检测技术人员的水平也影响到检测的结果，因为进行无损检测不仅仅要会操作仪器，而且检测人员还需要具备文物专业知识、文化水平等方面的素养。如果这些方面的条件不达标，就可能因为人为因素而影响检测结果。

　　这次故宫用X射线荧光光谱仪来分析宋代哥窑青釉葵瓣口盘也暴露出无损检测技术的一个很大弱点，即这些技术对文物没有自动保护和自动报警功能。因而，检测时要靠人工调节相互距离，距离最近时，机器离文物仅仅相差1毫米。在这种情况下稍一疏忽，就可能造成被检文物的挤压和碰撞，导致损坏。所以，故宫“瓷器门”事件也暴露了无损检测设备的不足，这也是这类仪器设备需要改进的地方。