霍华
张浦生
内容简介:
青花用之于皇室,收之于窖藏,传之于民间,畅销于世界,雅俗共赏,被誉为中国的“国瓷”。它以釉下彩的工艺优势和瓷画的美学艺术价值,受到世人的珍视。《青花瓷鉴赏与收藏》一书从青花瓷的生产开始,一一讲述了唐青花、元青花、明清青花,以及古代青花瓷的鉴定、青花瓷画、青花瓷的外销等各个方面的内容。本书图文并茂,印刷精美,让读者轻松获得关于青花瓷的基础知识和收藏鉴定方法、技巧。
作者简介:
张浦生,1934年3月生于上海,祖籍安徽省歙县。1957年9月上海复旦大学历史系毕业。现任国家文物鉴定委员会委员,南京博物院研究员,江苏省文史馆馆员,复旦大学、华东师范大学、上海交通大学、清华大学、南京艺术学院等高校客座教授。主要研究方向为中国古陶瓷鉴定,提出了青花瓷起源于唐代,青花瓷鉴定要“一看青,二看花;官窑重青,民窑重花”的观点,并被海内外陶瓷界广泛接受。先后出版了《青花瓷画鉴定》《青花瓷器鉴定》《宜兴紫砂鉴定与欣赏》《青花瓷器鉴赏与收藏》《青花瓷鉴定》等专著。编写了《中国历代瓷器特征、鉴定与保管》《青花瓷器概说》《怎样鉴定古代瓷器》等讲义(内部发行)。曾应邀到英国、法国、日本、新加坡、马来西亚、美国、澳大利亚,以及中国香港、澳门、台湾等地考察讲学。
霍华,1956年7月生人,籍贯河北平山。1977年到南京博物院工作至今,先后在考古部、技术部、保管部瓷器库房和文物征集部工作,主要研究古陶瓷。1995年整理出版张浦生先生《青花瓷器鉴定》一书,出版《陶瓷述古》(1998年)和 《恰如灯下故人——谛听中国瓷器妙音》(2008年)两本专著。2008年另发表古陶瓷研究方面文字共50余万字。2011年9月被聘为南京艺术学院特邀客座教授,在南京艺术学院和南京理工大学教授古陶瓷和博物馆方面的课程。曾在台北故宫[微博]博物院和香港中文大学文物馆做古陶瓷方面的讲演。
文章:
如何用仪器鉴定青花瓷
除了传统的鉴定方法以外,现在还出现了一些高科技仪器鉴定,例如:热释光(TL)测量法、反应堆中子活化分析法、能量色散X射线荧光分析(EDXRF)法、加速器质子X荧光光谱分析(PIXE)方法等。
热释光测量法
热释光(TL)是一种发光现象,指的是某些固体在一定情况下,被加热到100~500℃而变得红热之前,所能发出的可见光,可以用高灵敏度的测光量仪器测出这种微弱的可见光。热释光一般发生在不导电的固体中,陶瓷器属于此列。陶瓷器在烧制过程中,要经过700℃以上的温度,其烧制前的热释光全部释放完毕,也就是说,烧成的陶瓷器,其热释光是零,但是,陶瓷器中的放射性元素是烧不掉的,它们在射线的作用下,又会重新积聚热释光,它们烧制的时代越久远,积聚的热释光就越多。根据这一科学原理,可以测定古陶瓷的年代。测试的要求是,从需要测试的器物上取一个直径约3毫米,厚0.2毫米的薄片,将它加热到100~500℃时,就可以测出它天然热释光的数值,再根据公式计算出它的烧制年代。虽然由于测量技术的复杂性,热释光测年代技术还有一些问题有待于进一步解决,但是实验结果表明,大部分年代比较久远的瓷器的热释光测年代真伪鉴定的结果是满意的。
反应堆中子活化分析法
活化分析又称放射性分析,它是利用原子核反应使元素的某一稳定同位素转变成放射性核素,然后通过测定生成的放射性核素的核射特征和活度,对该元素进行定性或定量分析。这种方法要求将样品制备成极细的粉末。中国古代各瓷窑的瓷土资源,一般来自于当地的瓷土矿。这些瓷土矿中,含量在百万分之几(PPm)的微量元素对于瓷器的质量和价值都没有任何影响,并不引人注意,而被忽略不计。瓷胎釉中某些微量元素的含量不受配料、方法、时代、工匠流动等因素的影响,或影响甚微,因此具有明显的地方特色和时代属性。瓷土的产地不同,瓷土中所含的微量元素的品种、类别和数值也不同。利用灵敏度极高的核分析技术,测出古瓷中所含的微量元素,再利用计算机的类聚统计功能,制成各窑场的瓷胎特征谱,最终就能建成古瓷特征谱系数据库。中国社会科学院考古研究所的李虎侯教授早在1994年以前,就已经在中科院原子能研究院的重反应堆内做了磁州窑、耀州窑、岳州窑、吉州窑、钧窑、龙泉窑、汝窑等十多个窑址出土古瓷的微量元素活化分析。金国樵先生用计算机,将李教授做出的二百多个数据进行聚类统计,做出了它们的特征谱。高仿瓷虽然可以按照已经测试出的出土古瓷的化学成分进行配方,但是微量元素是无法配入的,所以这种测试方法在古瓷科学测试中有比较大的价值。
能量色散X射线荧光分析法
能量色散X射线荧光分析法是一种无损测试方法。这种方法对瓷器中的元素进行分析的原理是:当X管产生的X射线对置于探测室中的瓷器进行辐照时, 瓷器中不同元素的原子中的电子受到X射线的激发,会产生特征X射线,又称X射线荧光,同时将光谱记录下来。根据记录下来的谱图,我们可以对瓷器胎釉中的不同元素作定性、定量分析。北京故宫博物院古陶瓷测试研究室可以做这种方法的测试。
加速器质子X荧光光谱分析方法
加速器质子X荧光光谱分析方法是一种无损测试方法。因为不同时代、不同窑口的古瓷所采用的原料和制瓷工艺不同,所以这些古瓷的化学组成及微观结构必定保留有各自的烧造年代及地点的信息,可以用来判断年代和窑口。根据这一理论,PIXE方法采用无损质子激发X荧光技术(PIXE)可以测定古陶瓷的主量、次量及微量元素的化学组分(包括胎釉和各种色料)。通过测试发现,仿古瓷并不难测定,因为古瓷和现代产品的化学元素含量是不同的,特别是微量元素很难掺假配方。在测试和计算中采用多元统计方法,对被测样品和数据库中的标准数据进行研究和比较,就可以鉴别出赝品。外束质子激发X荧光技术的测试原理是,从NEC9SDH-2串列加速器得到初始能量为3.0MeV的准直质子束,质子束穿过厚度为7.5μm的Kapton隔离膜,继续穿越10mm的大气层达到样品。样品上激发的X射线用Si(Li)探测器测量,测得的X射线能谱用GUPIX96软件计算后, 得到样品的化学元素成分和组成的质量百分数,将样品和数据库中的标准数据进行对比和计算,就可以得出结论。复旦大学现代物理研究所加速器实验室采用外束质子激发X荧光技术对古陶瓷进行无损测试,该实验室现在对外承担无损测试业务。